三維測(cè)量,顧名思義就是被測(cè)物進(jìn)行全方位測(cè)量,確定被測(cè)物的三維坐標(biāo)測(cè)量數(shù)據(jù)。其測(cè)量原理分為測(cè)距、角位移、掃描、定向四個(gè)方面。根據(jù)三維技術(shù)原理研發(fā)的儀器包括拍照式(結(jié)構(gòu)光)三維掃描儀[1] 、激光三維掃描儀和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)三種測(cè)量?jī)x器。
光學(xué)三維測(cè)量技術(shù)就是利用光學(xué)技術(shù)和圖形圖像處理分析方法,運(yùn)用計(jì)算機(jī)圖形圖像學(xué)的理論來(lái)數(shù)字化再現(xiàn)物體的三維形態(tài),在這個(gè)基礎(chǔ)上,獲取物體各部分間任意的相互尺寸關(guān)系。
隨著信息和通信技術(shù)的發(fā)展,人們?cè)谏詈凸ぷ髦薪佑|到越來(lái)越多的圖形圖像。獲取圖像的方法包括使用各種攝像機(jī)、照相機(jī)、掃描儀等,利用這些手段通常只能得到物體的平面圖像,即物體的二維信息。在許多領(lǐng)域,如機(jī)器視覺(jué)、面形檢測(cè)、實(shí)物仿形、自動(dòng)加工、產(chǎn)品質(zhì)量控制、生物醫(yī)學(xué)等,物體的三維信息是必不可少的。因此,如何獲取物體的三維信息,即三維物體面形輪廓測(cè)量得以發(fā)展。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)、光電子技術(shù)的迅速發(fā)展,新的光學(xué)三維掃描技術(shù)和計(jì)量方法也不斷涌現(xiàn)。
常用的三維掃描技術(shù)根據(jù)傳感方式的不同,分為接觸式和非接觸式兩種。 接觸式的采用探測(cè)頭直接接觸物體表面,通過(guò)探測(cè)頭反饋回來(lái)的光電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字面形信息,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)物體面形的掃描和測(cè)量,包括三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)法和電磁數(shù)字法。三坐標(biāo)測(cè)量法是現(xiàn)在最通用的測(cè)量方式之一。
你好,三維測(cè)量可定義為“一種具有可作三個(gè)方向移動(dòng)的探測(cè)器,可在三個(gè)相互垂直的導(dǎo)軌上移動(dòng),此探測(cè)器以接觸或非接觸等方式傳送訊號(hào),三個(gè)軸的位移測(cè)量系統(tǒng) 經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計(jì)算機(jī)等計(jì)算出工件的各點(diǎn)坐標(biāo)(X、Y、Z)及各項(xiàng)功能的測(cè)量”。 三維測(cè)量的測(cè)量功能應(yīng)包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等。
三維測(cè)量,顧名思義就是被測(cè)物進(jìn)行全方位測(cè)量,確定被測(cè)物的三維坐標(biāo)測(cè)量數(shù)據(jù)。其測(cè)量原理分為測(cè)距、角位移、掃描、定向四個(gè)方面。根據(jù)三維技術(shù)原理研發(fā)的儀器包括拍照式(結(jié)構(gòu)光)三維掃描儀 、激光三維掃描儀和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)三種測(cè)量?jī)x器。
相位測(cè)量輪廓術(shù) ( PhaseMeasuring Profilometry,簡(jiǎn)稱PMP)是采用結(jié)構(gòu)光照明的一種非接觸的三維面形測(cè)量方法. 這種方法采用正弦光柵投影和數(shù)字相移技術(shù),以較低廉的光學(xué)、電子和數(shù)字硬件設(shè)備為基礎(chǔ),以較高的速度和精度獲取和處理大量的三維數(shù)據(jù). 作為一種重要的三維傳感手段,這種方法已在工業(yè)檢測(cè)、實(shí)物仿形、醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用.